Indexed by:
Abstract:
在外施电压作用下,气固交界面处绝缘子表面会积聚电荷。由于表面电荷改变了原有电场的分布,常常会引起绝缘子表面电场集中,严重时可引起绝缘子沿面的异常闪络。对表面电荷积聚问题进行专题研究对于改进高压绝缘子的设计具有重要意义。
为了能在实验室中对表面电荷进行观测,本文采用静电探头法对表面电荷进行测量。通过对静电探头法的改进,使得静电探头测量系统的设计更加规范、科学。测试结果表明本文设计的新型电容探头与有些国外研究者采用的探头相比具有电荷分辨率高、感应电荷泄漏少等明显的优点。
本文首先对
Keyword:
Reprint Author's Address:
Email:
Basic Info :
Degree: 工学博士
Mentor: 邱毓昌
Student No.:
Year: 2003
Language: Chinese
Cited Count:
WoS CC Cited Count: 0
SCOPUS Cited Count:
ESI Highly Cited Papers on the List: 0 Unfold All
WanFang Cited Count:
Chinese Cited Count:
30 Days PV: 10
Affiliated Colleges: